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SENTECH臺式薄膜探針反射儀FTPadv通過選擇合適的配方，F(xiàn)TPadv反射儀以小于100ms的測量速度、精度小于0.3nm、厚度范圍為50nm-25μm的精度進行厚度測量。
RM1000反射膜厚儀反射膜厚儀RM 1000和RM 2000測量具有光滑或粗糙表面的平坦或彎曲樣品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert軟件計算單層或層疊膜的厚度、消光系數(shù)和折射率指數(shù)。在紫外-可見光- 近紅外光譜范圍內(nèi)，可以分析5nm～50μm厚度的單層膜、層疊膜和基片。
安科瑞泰SE500adv橢偏反射儀SE 500adv結合了橢偏儀和反射儀，除了測量透明膜層厚度的模糊性。它把可測量的厚度擴展到25m，因此SE 500adv擴展了標準激光橢偏儀SE 400adv的能力，特別適用于分析較厚的介質(zhì)膜、有機材料、光阻、硅和多晶硅薄膜。
安科瑞泰SE400adv激光橢偏儀我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長和終點檢測，或者做樣品均勻性的自動掃描。
TK4260交流充電接口綜合測試與分析單元是一款專用于電動汽車交流充電樁輸出側交流參數(shù)轉換的儀器，配有標準交流充電插座，可用于交流充電樁互操作性測試等項目。
菊水TOS6200A地線導通測試儀TOS6200A是為進行電氣產(chǎn)品安全法、IEC、EN、VDE、BS、UL、JIS等安全標準中的I等級設備所要求的接地電阻的測試儀。該測試儀通過新開發(fā)的高效率電源，實現(xiàn)了150VA的大輸出，體積小，質(zhì)量輕。該測試儀通過采用恒流方式，可針對被試驗物的電阻值變化提供穩(wěn)定的電流，*可以應對生產(chǎn)線上的自動試驗系統(tǒng)。
Keithley吉時利2015-P 音頻分析儀2015-P型音頻分析數(shù)字多用表集成了音頻帶質(zhì)量檢測與分析和全功能六位半數(shù)字多用表的功能。測試工程師可以進行寬范圍的電壓、電阻、電流、頻率和失真測量，而所有這些都集成在一個半機架尺寸的緊湊儀器內(nèi)。
Keithley 4200A-SCS半導體特性分析系統(tǒng)使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 （I-V）、電容-電壓 （C-V） 和超快脈沖 I-V 測量。
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