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是德2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統，開發和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。 Keithley 高功率參數化波形記錄器系列的配置支持所有的設備類型和測試參數。
Keysight是德科技B1500A半導體器件分析儀是精密電流-電壓分析儀系列的一款一體化分析儀，支持 IV、CV、脈沖/動態 IV 等功能，專為從基礎到應用的表征而設計。它提供廣泛的測量功能，涵蓋器件、材料、半導體、有源/無源元件或幾乎任何其他類型的電子設備的電氣特性和評估，具有測量可靠性和效率。
QTJ8600T功率半導體器件測試機功率半導體器件測試機 實現全自動化測試過程，滿足不同器件測試對測試機的要求。 本產品為IGBT、SiC等功率半導體器件提供全套功率測試解決方案，可高效實現從晶圓級到最終產品的ISO、DC、AC等全套測試，實現全自動化測試過程，并配置豐富的測試接口和功能模塊選擇，滿足不同器件測試對測試機的要求。
Powertester 1800A IGBT功率及熱阻測試系統既可以對包括IGBT 器件在內的電力電子器件進行功率循環測試即對被測電力電子器件施加應力測試，還可以通過瞬態熱測試對包括IGBT 器件在內的電力電子器件進行熱特性測量。
ENJ2005-C半導體功率器件圖示系統是一款很具有代表性的新型半導體功率器件圖示系統，系統IV曲線自動生成，也可根據實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立，保證了數據的準確可靠。
ST2500EX高性能數模混合信號測試機，支持1024數字通道配置。該系統硬件結構采用Direct Docking連接方式，可以兼容J Type針卡，降低客戶轉平臺治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴展性，可搭載無線綜測儀、RF測試模塊及各類高性價比解決方案。
ST2500E高密度數模混合信號測試機廣泛應用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導體晶圓、器件測試和模塊系統級測試。
ENJ2005-A半導體分立器件測試系統采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統內部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。
